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GB/T 31838.3 固體絕緣材料 介電和電阻特性 第3部分:電阻特性(DC)方法 表面電阻和表面電阻率。
GB/T 10006 塑料 薄膜和薄片 摩擦系數(shù)測定方法;
GB/T 16578.2 塑料 薄膜和薄片 耐撕裂性能的測定 第2部分:埃萊門多夫(Elmendor)法;
所需儀器精度如下:
GB/T 25915.1-2010 潔凈室及相關(guān)受控環(huán)境 第1部分:空氣潔凈度等級;
概述從薄膜卷上取樣時,應至少先剝?nèi)プ钔?層薄膜,并按有關(guān)性能的要求制樣。
根據(jù)GB/T6672,用立式光學計或其他合適的測厚儀測量單張試樣的厚度。
結(jié)果GB/T 13542.6 電氣絕緣用薄膜 第6部分:電氣絕緣用聚酰亞胺薄膜;
GB/T 10582 電氣絕緣材料 測定因絕緣材料引起的電解腐蝕的試驗方法;
厚度應按GB/T 13542.3、GB/T 13542.4、GB/T13542.6以及其他有關(guān)產(chǎn)品標準的要求采用下列規(guī)定中的一種或幾種方法進行測定。
預處理條件機械法
GB/T 11026 (所有部分) 電氣絕緣材料 耐熱性;
GB/T 31838.2 固體絕緣材料 介電和電阻特性 第2部分:電阻特性(DC)方法 體積電阻和體積電阻率;
沿樣品寬度方向切取三條約100mm寬的薄膜(當膜卷寬度小于400mm時,可適當多取幾條),試樣不應有皺折或其他缺陷。單層法疊層法
按GB/T 451.3 對疊層厚度進行測量,與多片測量結(jié)果不同。薄膜疊層試樣數(shù)量為四個,每個疊層試樣由12層薄膜組成。其制備方法如下:從離膜卷的外表面約0.5mm厚處時切取,并沿薄膜樣條的長度方向纏繞于潔凈的樣板(尺寸宜為:250mm×200mm,其中200mm為板的長度方向尺寸)。在測量之前去掉疊層的最外層和最內(nèi)層(實際測量10層),再進行測量。厚度測量儀器
GB/T 7196 用液體萃取測定電氣絕緣材料離子雜質(zhì)的試驗方法;
GB/T 20631.2-2006 電氣用壓敏膠粘帶 第2部:試驗方法;
GB/T 10580-2015 固體絕緣材料在試驗前和試驗時采用的標準條件;
除非產(chǎn)品標準或本文件中個別試驗另有規(guī)定外,制樣前,樣品薄膜卷應在23℃±2℃,相對濕度50%±5%的條件下至少放置24h。取好的試樣應在該條件下處理1h。
取測量值的中值作為試驗結(jié)果,并報告最大值和最小值。
GB/T 6673 塑料薄膜和薄片長度和寬度的測定;
GB/T 13542.4 電氣絕緣用薄膜 第4部分:聚酯薄膜;
GB/T 6672 塑料薄膜和薄片厚度測定 機械測量法;
GB/T 13542.3 電氣絕緣用薄膜 第3部分:電容器用雙軸定向聚丙烯薄膜;
GB/T 22689 測定固體絕緣材料相對耐表面放電擊穿能力的推薦試驗方法;
——薄膜厚度<15μm時,精度不低于0.2μm;
測量 GB/T 19466.3 塑料 差示掃描量熱法(DSC) 第3部分:熔融和結(jié)晶溫度及熱焓的測定;
疊層試樣測量厚度除以10,得到單層薄膜厚度,取其平均值作為試驗結(jié)果,并報告最大值和最小值。
千分尺:精度為1μm,直徑為6mm的平面測帽,測量壓力為6N~10N。
試驗條件
GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片 樣品平均厚度、卷平均厚度及單位質(zhì)量面積的測定 稱量法(稱量厚度);
在試樣上等距離共測量9點,試樣寬不小于300mm,沿試樣長方向兩測量點間不少于50mm。對未切邊的卷,測量點應離薄膜邊緣50mm;對已切過的卷,測量點應離薄膜邊緣2mm。試驗一般說明
薄膜厚度小于100μm時,用立式光學計或其他合適的測厚儀測量。采用直徑為2mm的平面測帽或曲率半徑為25mm~50mm的球面測帽。測量壓力為0.5N~1N。薄膜厚度≥100μm時,可用千分尺測量。
結(jié)果測量測量儀器
取樣
本文件沒有需要界定的技術(shù)和定義。
——薄膜厚度≥15μm但<100μm時,精度不低于1μm;
概述——薄膜厚度≥100μm時,精度不低于2μm。
給出兩種方法,一種用單層法,另一種用疊層法。
除非產(chǎn)品標準或本文件中個別試驗另有規(guī)定,試驗應在溫度23℃±2℃、相對濕度50%±5%、環(huán)境潔凈度≤10000級(按GB/T25915.1-2010中ISO7級要求,關(guān)注0.5μm粒徑)的條件下進行。
按GB/T6672的規(guī)定,用合適的平面或球面測帽的測厚儀,測量試樣的厚度。
原理GB/T 16578.1 塑料 薄膜和薄片 耐撕裂性能的測定 第1部分:褲形撕裂法;